CHY-50U 测厚仪_济南瓦兰德仪器有限公司

CHY-50U电子测厚仪

测试原理

测厚仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。

适用范围

测厚仪CHY-50U适用于5mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。扩展应用：（需特殊附件或改制）

产品序号	产品名称	使用范围
1	薄膜	用于薄膜、薄片、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量。
2	铝箔	对金属箔片、硬片等硬质材料厚度测量。
3	纸张	用于各种纸张、纸板材料厚度测试。
4	硅片	接触式测试原理有效的检测出硅片上每个点的厚度值。

技术特征

●彩色大液晶显示测试结果，及每次测量值、统计值；

●测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差;

●配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值；

●支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能;

●严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制;

●配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小；

●测试软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；

●配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输；

●系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务。