包装材料检测仪器

CHY-CA薄膜测厚仪

  • 生产厂商:济南瓦兰德仪器有限公司

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简要描述:CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量原理,严格按照标准方法进行测量,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。...

详细介绍

CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

专业技术

严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制

测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差

支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择

系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定

实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断

配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性

系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果

系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看

标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据

丰富应用

基础应用

薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料,如尿不湿、卫生巾片材等

试原理

CHY-CA薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量原理,截取一定尺寸的式样;通过控制面板按钮,调节测量头降落于式样之上;依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度

测试标准

该仪器符合多项国家和国际标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

技术指标

                      型号

项目

CHY-CA薄膜测厚仪

测试范围

02 mm(常规) 06 mm12 mm(可选)

分辨率

0.1 μm

测量速度

10 /min (可调)

测试压力

17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)

接触面积

50 mm²(薄膜);200 mm²(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制

进样步距

01000 mm

进样速度

0.199.9 mm/s

电源

AC 220V 50Hz   80W

外形尺寸

461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

净重

32 kg


产品配置

标准配置

主机、标准量块一件、通信电缆、测量头

  选购件

非标测量头、配重砝码、专业软件



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